Fotocélula Sick Sensor de horquilla, alcance 50 mm, salida Conmutación de luz/oscuridad, INSERCIÓN/EXTRACCIÓN, Conector

DescripciónDe un vistazoLáser de clase 1 muy preciso Ajuste sencillo y preciso del umbral de conmutación a través de IO-Link, botón de programación o botones más/menos Tiempo de respuesta rápido: 100 μs Salida de conmutación PNP y NPN Función de conmutación de luz/oscuridad Carcasa de aluminio estable con índice de protección IP 65 Sensor inteligente con interfaz IO-Link integradaSu beneficioUn haz láser de alta precisión garantiza una precisión de medición uniforme todo el rango de medición y detección fiable de extremadamente pequeño objetos Un haz láser visible permite una alineación sencilla y un ajuste rápido El ajuste fiable y sencillo mediante el botón de programación garantiza un proceso alto fiabilidad Una amplia gama de diferentes tamaños de horquilla aumenta la flexibilidad de montaje Carcasa de aluminio estable para usar en entornos industriales hostiles Gracias a IO-Link o al aprendizaje externo, el umbral de conmutación se puede adaptar mientras el proceso está en ejecución, lo que aumenta la fiabilidad del proceso Fácil acceso a los datos desde el PLC a través de IO-LinkLos sensores de horquilla láser WF se caracterizan por tiempos de respuesta rápidos y un haz láser visible muy enfocado. El emisor y el receptor funcionan con un diseño de haz pasante y se encuentran en una única carcasa. Por lo tanto, no es necesario realizar ningún ajuste. Los sensores garantizan una precisión de posicionamiento excepcionalmente alta e impresionan con sus tiempos de respuesta extremadamente rápidos y una resolución muy precisa. Como resultado, los sensores son especialmente adecuados para detectar objetos muy pequeños como agujas o cables. También se recomiendan para la detección de objetos transparentes. Hay un total de 21 variantes de láser WF disponibles para usar en una amplia gama de aplicaciones.AplicacionesDetección de piezas pequeñas Detección de objetos transparentes Posicionamiento preciso de objetos Comprobación de presencia y nivel de llenado en el sistema de singularización Comprobación de la presencia y supervisión de la acumulación en transportadores de enfilado Compensación de puntas Supervisión de presencia y copia de seguridadNota